更新時(shí)間:2023-08-18
多光譜多光軸測試設(shè)備用于校正、測量激光光軸、紅外光軸、可見光軸之間的平行性,設(shè)備能在一定范圍內(nèi)適應(yīng)大跨度光軸和光軸任意位置分布,配備部分附件和軟件,可以檢查與測量可見光學(xué)系統(tǒng)和紅外光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)量。
多光譜多光軸測試設(shè)備用于校正、測量激光光軸、紅外光軸、可見光軸之間的平行性,設(shè)備能在一定范圍內(nèi)適應(yīng)大跨度光軸和光軸任意位置分布,配備部分附件和軟件,可以檢查與測量可見光學(xué)系統(tǒng)和紅外光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)量。
該設(shè)備已經(jīng)成功的交付多套科研院所,用于校正激光光軸、紅外光軸、可見光軸的平行性??筛鶕?jù)客戶的指標(biāo)定制,以下參數(shù)僅供參考。
多光譜多光軸測試設(shè)備技術(shù)規(guī)格:
平行光管焦距 | f=3000mm |
通光口徑 | 300mm |
光軸大跨度 | 800mm |
設(shè)備光軸平行性 | ≤10″ |
光軸空間角度 | 360° |
同時(shí)校正光軸數(shù) | 3軸(可見、紅外、激光) |